+7 (495) 220 94 85

84997046244@bga.su

Главная

Микроскоп сверхвысокого разрешения ZEISS Elyra 7

Микроскоп сверхвысокого разрешения ZEISS Elyra 7
(0)
Задать вопрос Добавить к заказу

ZEISS Elyra 7 - гибкая система микроскопии сверхвысокого разрешения, которая позволяет преодолеть дифракционный предел оптической микроскопии и дает возможность исследовать самые быстрые процессы на больших полях зрения, в 3D, в течение длительного времени и с несколькими красителями одновременно.


Преимущества продукции

· Высокая скорость получения изображения 

Новая технология Lattice SIM выводит микроскопию структурированного освещения (SIM) на новый уровень. Высокая эффективность модуляции освещения обеспечивает мягкое облучение и получение изображения со сверхвысоким разрешением и с невероятно высокой скоростью – до 255 кадров в секунду.


· Комбинирование методов

ZEISS Elyra 7 позволяет комбинировать Lattice SIM с микроскопией локализации единичных молекул (SMLM), объединяя такие методы как PALM, dSTORM и PAINT. Теперь можно свободно выбирать красители при визуализации с латеральным разрешением до 20 нм. Мощные лазерные линии позволяют подбирать любые режимы для возбуждения красителей во всем диапазоне от зеленого до дальнего красного.


· Гибкость

ZEISS Elyra 7 позволяет использовать различные методы контрастирования и комбинировать их с разными подходами оптического секционирования, такими как новый режим Apotome или LSM 980 с системой Airyscan 2.


· Технология Lattice SIM

Метод Lattice SIM обеспечивает оптическое секционирование и удвоение дифракционно-ограниченного разрешения в 3D (120 нм в плоскости xy и 300 нм по оси z). ZEISS Elyra 7 предоставляет оптимальное качество изображения и разрешение вдоль всего видимого спектра и на большом поле зрения. 


· Различные режимы получения изображения 

Lattice SIM открывает новые возможности для увеличения скорости визуализации. Режим Leap используется для получения трехмерных изображений в три раза быстрее. Режим Burst – для захвата временных серий в 2D с частотой до 255 кадров в секунду. Благодаря специальной решетке (сетке), используемой в технологии Lattice SIM, захват изображения производится гораздо быстрее и с меньшей фототоксичностью, без ущерба для разрешения.


· Микроскопия локализации единичных молекул

Общий термин Single-molecule localization microscopy (SMLM) объединяет целый ряд методов, таких как PALM, dSTORM, PAINT и другие. Благодаря мощным лазерам видимого диапазона и системе с двумя камерами ZEISS Elyra 7 позволяет получить доступ к широкому спектру красителей, маркеров и флуорофоров практически в любой возможной комбинации.  

ZEISS Elyra 7 обеспечивает количественную оценку с постоянной точностью на большом поле зрения, а также крайне высоком диапазоне по оси z. Это позволяет визуализировать трехмерные объекты с молекулярной точностью.

ZEISS Elyra 7 имеет мощные лазерные линии видимого диапазона, которые дают свободу выбора красителей для любых экспериментов. Кроме того, модуль с двумя камерами с точной синхронизацией позволяет одновременно захватывать два флуоресцентных канала.


Технические характеристики ZEISS Elyra 7

Лазерные линии

405нм (50мВт), 488нм (100 мВт), 561нм (100 мВт), 642нм (100 мВт)

Камера для PALM

EMCCD камера, разрешение 512 х 512 пикселей, размер пикселя 16 мкм х 16 мкм; Квантовая эффективность 90%

Камера для SR-SIM

EMCCD камера; разрешение 1004 x 1002 пикселей; размер пикселя: 8 мкм x 8 мкм; Квантовая эффективность 65%

Скорость захвата PALM

27 кадров в секунду (512 x 512 пикселей в режиме TIRF

Скорость захвата SR-SIM

1,7 секунды\кадр (1004 x 1002 пикселей), 1,4 секунды\кадр (256 х 256 пикселей)

Максимальное поле зрения PALM

51.1 x 51.1 мкм (с объективом “Plan-Apochromat” 100x/1,46)

Максимальное поле зрения SR-SIM

79.60 x 79.44 мкм (с объективом “ “Plan-Apochromat” 63x/1.40)

Штатив

моторизованный инвертированный микроскоп Axio Observer Z1 SR

Доступные комплектации

ELYRA P.1, ELYRA S.1, ELYRA PS.1, ELYRA P.1 LSM , ELYRA S.1 LSM, ELYRA PS.1 LSM


Компания ZEISS — ведущая мировая технологическая компания в области оптики и оптоэлектроники.

Отзывы

Оставьте первый отзыв

Добавить отзыв

Добавить отзыв

Раздел не найден