В НАЛИЧИЕ НА СКЛАДЕ КАТАЛОГ


Микроскопия сверхвысокого разрешения


Разрешающая способность оптического микроскопа имеет пределы, которые определяются длиной волны света. Дифракционный барьер, возникающий из-за волновой природы света, долгое время делал невозможным изучение объектов размером менее 200 нм. Соответственно, процессы и структуры субклеточного уровня были недоступны для исследования.

Развитие техники дало возможность обойти дифракционный предел, открытый ещё Эрнстом Аббе в 1873 году, и создать системы микроскопии сверхвысокого разрешения. Микроскопия сверхвысокого разрешения от компании Nikon использует несколько вариантов решения проблемы преодоления предела оптического разрешения микроскопов. Решения Nikon для микроскопии сверхвысокого разрешения включают метод структурированного освещения (SIM) и метод стохастической оптической реконструкции (STORM).

Микроскопия сверхвысокого разрешения Nikon – это возможность увидеть не только клеточные органеллы, но и отдельные молекулы.


 
Система с разрешением, в 2-3 раза превышающим оптический предел
 
 
Исследовательский оптический микроскоп с разрешением до 20 нм